楔条形阳极探测器的性能测试与分析

作     者：刘永安 赵宝升 朱香平 缪震华 张兴华 邹玮 LIU Yong-an;ZHAO Bao-sheng;ZHU Xiang-ping;MIAO Zhen-hua;ZHANG Xing-hua;ZOU Wei

作者机构：中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室西安710119 中国科学院研究生院北京100049 

出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)

年 卷 期：2009年第38卷第4期

页      面：750-755页

核心收录：

学科分类：080901[工学-物理电子学] 070207[理学-光学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：中科院知识创新工程方向性项目资助 

主　　题：阳极探测器 楔条形阳极 微通道板 暗计数 分辨率 

摘      要：对研制出的楔条形阳极探测器进行了性能分析与实验测试,分析了引起成像畸变的三个重要因素:到达阳极的电子云半径大小、阳极的电容耦合效应和电子读出电路的性能.电子云半径的过大或过小会相应引起成像的S畸变或调制畸变,电容耦合效应和电路噪音也均会引起成像的畸变.此外,测试了探测器的暗计数率、线性度以及空间分辨率等性能,同时分析了微通道板在光照情况下的增益特性和暗计数的一般特性及其产生原因.测试结果表明探测器的成像畸变很小、线性关系较好,空间分辨率优于150μm,微通道板的暗计数率低于0.4count/s*cm2.