碲镉汞光导探测器的变温测试
Measurement of PC MCT Detector with Changing Temperatures作者机构：昆明物理研究所
出 版 物：《红外技术》 (Infrared Technology)
年 卷 期：1997年第19卷第4期
页 面：27-30,12页
核心收录：
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
摘 要：报道了ＨｇＣｄＴｅ光导探测器光电参数随温度变化的关系，重点描述了光谱响应变温测试，给出ＨｇＣｄＴｅ器件从液氮到室温之间若干个不同温度点测试的光谱响应曲线及器件变温测试的性能参数对照表，并与经验公式计算结果进行对比。
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