作 者:陈德桂 CHEN Degui
作者机构:西安交通大学陕西西安710049
出 版 物:《低压电器》 (Low Voltage Apparatus)
年 卷 期:2009年第13期
页 面:1-3页
学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学]
主 题:万能式断路器 动稳定 双断点
摘 要:提出了一种新型双断点万能式断路器。以两个简化的模型,在短路电流作用下,分析了双断点和单断点万能式断路器触头上的电动斥力,对比了双断点和单断点万能式断路器触头上的电动稳定性,说明了双断点结构具有高电动稳定性的原因。指出提高操作机构的机械强度是双断点万能式断路器设计的关键。