微带器件双端口测试的校准件设计
Calibration Standard Design Based on the Microstrip Dual-Port Test作者机构：北京邮电大学电子工程学院北京100876 东南大学毫米波国家重点实验室南京210096
出 版 物：《北京邮电大学学报》 (Journal of Beijing University of Posts and Telecommunications)
年 卷 期：2013年第36卷第5期
页 面：1-5页
核心收录：
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家自然科学基金项目(61072009) 毫米波国家重点实验室项目(K201209) 中央高校基本科研业务费专项项目
摘 要：通过校准修正矢量网络分析仪全部12项系统误差,利用Matlab程序实现了SOLT(short、open、load、through)和TRL(through、reflect、line)校准算法,去除误差项,得到真实的S参数.通过与矢网校准结果相对比验证了算法和程序的正确性,并在此基础上制作了SOLT和TRL微带结构校准件,并成功用于滤波器测试.
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