两因素随机效应模型下平均暴露量的检验

作     者：牟唯嫣 徐兴忠 熊世峰 Mu Weiyan;Xu Xingzhong;Xiong Shifeng

作者机构：北京理工大学理学院北京100081 中国科学院数学与系统科学研究院北京100080 

出 版 物：《系统科学与数学》 (Journal of Systems Science and Mathematical Sciences)

年 卷 期：2007年第27卷第1期

页      面：134-144页

核心收录：

学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学] 

基　　金：国家自然科学基金(10271013 10371126)资助课题 

主　　题：两因素随机效应模型 平均暴露量 广义枢轴量 广义p-值 频率性质 

摘      要：通过两因素随机效应模型来研究某一工厂的平均暴露(exposure)水平．利用广义检验变量和广义枢轴量分别给出了相关假设检验问题的广义p-值．证明了由广义p-值所确定的拒绝域的概率在原假设下取上确界等于在原假设和备择假设的公共边界上取上确界,且进一步证明了当参数趋于原假设和备择假设的公共边界的边界时,犯第一类错误的概率趋于名义显著性水平,并在公共边界的内部做了模拟研究．结果表明,用广义p-值的方法来解决此类问题可得到令人满意的结果．