碘化汞晶体的热处理与探测器性能表征(英文)
Heat Treating and Detectors Characterization of α-HgI_2作者机构:西北工业大学凝固技术国家重点实验室陕西西安710072 西安工业大学陕西西安710032
出 版 物:《稀有金属材料与工程》 (Rare Metal Materials and Engineering)
年 卷 期:2010年第39卷第12期
页 面:2088-2090页
核心收录:
学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学]
基 金:Xi'an Applied Materials Innovation Funds(XA-AM-200811)
主 题:碘化汞 晶体生长炉 热处理 核辐射探测器 性能表征 energy resolution single crystal performance 241Am gamma ray 自行设计 晶体制备 性能测试 相关特性 富碘 results 准直器 未使用 升华法 两温区
摘 要:利用自行设计的垂直两温区晶体生长炉,采用静态升华法生长α-HgI2晶体。经过23d的生长,获得了尺寸约为15mm×12mm×5mm的α-HgI2晶体。通过XRD和4155CVIV电学测试仪表征晶体的相关特性,并对利用该晶体制备的探测器进行核辐射探测性能测试。结果表明,生长的α-HgI2晶体富碘。对晶体适宜的加热可以有效减少富碘现象。晶体的电阻率约为1012?.cm。制备的α-HgI2核辐射探测器对未使用准直器的241Am辐射源(59.5keV)在室温下的分辨率为14.6%(8.69keV)。