X辐射取样中不平度效应的研究
A study on unevenness effect in X-ray sampling作者机构：中国地质大学
出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)
年 卷 期：1995年第18卷第6期
页 面：331-337页
核心收录：
学科分类：081801[工学-矿产普查与勘探] 081802[工学-地球探测与信息技术] 0709[理学-地质学] 070901[理学-矿物学、岩石学、矿床学] 07[理学] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程]
基 金：国家自然科学基金
摘 要：从理论上引出了“等效平面和“等效源样距的概念，将岩壁表面凹凸不平对Ｘ辐射取样的影响等效成表面为平面时源样距的变化对Ｘ辐射取样的影响。提出了克服不平度效应的“特散比基本参数．模拟岩壁模型实验表明，当表面凹凸起伏等于１０ｍｍ时，凹凸面测得的特散比值相对于光滑平面的相对误差绝对值的平均值小于５％。在Ｓｎ、Ｍｏ、Ｐｈ（Ｚｎ）等矿山的应用实践表明，Ｘ辐射取样方法提供的矿石平均品位（或线储量）与传统刻槽化学方法相比，相对误差小于１０％，可满足矿山的开采要求．
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