一种提取频高图中O波描迹新方法
Method for automatic scaling of O wave traces from ionograms作者机构：武汉大学电子信息学院武汉430072
出 版 物：《地球物理学进展》 (Progress in Geophysics)
年 卷 期：2018年第33卷第4期
页 面：1351-1357页
核心收录：
学科分类：070802[理学-空间物理学] 07[理学] 0708[理学-地球物理学]
基 金：国家自然科学基金资助项目(41604133) 博士后基金(2016M592374) 中央高校基本科研业务费专项基金资助项目联合资助
摘 要：垂测仪是研究电离层中最常用的仪器之一,目前各国在世界范围内布设了大量的垂测仪来对电离层进行常规观测.而这些垂测仪每天都会记录大量的频高图数据,因此自动度量频高图算法的研究则成为如何高效利用大量频高图数据来研究电离层的重要基础.由于频高图中O波描迹的提取,对于研究不同电离层高度反射回波的扰动特征具有重要的意义,因此本文提出一种新方法用于从频高图中自动提取O波描迹.该方法基于滑动窗口和图像投影技术,首先确定O波和X波描迹的交叉点,然后在此基础上利用O波X波在频高图中的不同分布特征,单独提取出O波描迹,并利用局部加权回归算法对提取的描迹进行拟合.通过云南普洱站记录的频高图数据对该算法进行验证,将自动提取的描迹与人工提取的描迹进行对比,可接受的比例大约85.3%.对比结果表明本文提出的算法能够较好的提取频高图中的O波描迹.
维普期刊数据库
同方期刊数据库
