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Dependence of Quantum Yields on Size of Ag Nano-particle Embedded in BaO Thin Film

Dependence of Quantum Yields on Size of Ag Nano-particle Embedded in BaO Thin Film

作     者:CAIWu-de YANGYi-bing  

作者机构:Dept.ofPhysYunnanNormalUniversityKunming650092CHN CollegeofArmedPoliceFrontierDefenceCommandinKunmingKunming650214CHN 

出 版 物:《Semiconductor Photonics and Technology》 (半导体光子学与技术(英文版))

年 卷 期:2002年第8卷第1期

页      面:27-31页

学科分类:080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学] 

基  金:FoundationofYunnanEducationCommittee(No .0 1112 39) 

主  题:quantum yield ag nano-prticles ultrafast nonlinear response 

摘      要:Theoretical dependence of the quantum yields on the size of Agnano-particle distribution from 0.8 nm to 37 nm embedded in BaOsemiconductor is discussed. The calculation results show that theincrease in Ag nano-particle diameter leads to the increase of thequantum yield threshold and the emergence of the rough Gaussian form,the results also shown that the greater increase in Ag nano-particlediameter causes the emergence of the exact Gaussian form and makesthe peaks rise up.

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