某型微波组件过电应力分析及对策
Analysis of EOS of Microwave Modules作者机构：中国空空导弹研究院河南洛阳471009
出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)
年 卷 期：2011年第29卷第3期
页 面：18-22页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：电子元器件的失效往往与其承受的电应力是紧密相关的,降低其承受的电应力可以提高其使用可靠性。通过某型微波组件过电应力来源排查,提出了在电路中增加过流保护电阻,增加产品防静电保护包装,整机测试工位增加净化电源等措施,由此可以满足微波组件的使用需求,防止过电应力失效故障。
维普期刊数据库
同方期刊数据库