解理硅微结构的声子形变潜能
Phonon Deformation Potentials of Textured Silicon Microstructure作者机构：中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051
出 版 物：《中国机械工程》 (China Mechanical Engineering)
年 卷 期：2005年第16卷第Z1期
页 面：334-336页
核心收录：
学科分类：07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0702[理学-物理学]
主 题：Voigt-Reuss-Hill平均 微纳米材料 声子形变潜能 定向生长 硅
摘 要：利用Voigt-Reuss-Hill平均方法,对不同生长方向的微纳米材料结构的声子形变潜能进行了计算,得出了硅纳米材料不同生长方向上的声子形变潜能,为硅材料的定向生长提供了较好的参考依据.
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