滤片对能量色散X射线荧光光谱方法测定轻基体中痕量重金属Cd元素的作用

作     者：张丽娇 赖万昌 谢波 黄进初 李丹 杨强 陈小丽 ZHANG Li-jiao;LAI Wan-chang;XIE Bo;HUANG Jin-chu;LI Dan;WANG Guang-xi;YANG Qiang;CHEN Xiao-li

作者机构：成都理工大学核技术与自动化工程学院四川成都610059 华东理工大学江西省核资源与环境重点实验室江西南昌330013 中南大学地球科学与信息物理学院湖南长沙410083 

出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期：2018年第38卷第6期

页      面：1917-1921页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家重点研发计划重点专项课题(2017YFC0602105) 国家自然科学基金项目(41574128 41504139) 四川省科技计划项目(2016JY0208) 四川省教育厅自然科学重点项目(15ZA0070 15ZB0075)资助 

主　　题：重金属元素 能量色散X射线荧光光谱法 初级滤片 次级滤片 

摘      要：用能量色散X射线荧光光谱方法检测轻基体中重金属元素时,提高峰背比是一大难题,而设置滤片是解决这个难题的一种办法。该研究先对初级滤片(分为一类初级滤片和二类初级滤片)和次级滤片(平衡滤片)的选择(材料元素及厚度)作了理论分析,然后通过MC软件进行蒙特卡罗进行分别模拟,比较设置前后的峰背比,验证理论分析的准确性。一类初级滤片模拟设置了Fe和Cu两种材料,结果表明设置后的峰背比较设置前的1.36均提高了两倍左右;二类初级滤片模拟设置了Te和Ba两种材料,设置后的最大峰背比分别为14.88和13.58,均比比设置前提高了10倍左右;平衡滤片则是先后设置Rh和Ru两个滤片,两者计数相减即得到平衡通带,结果可见通带内特征峰透过率为83.1%,而通带外的背景值降低到几乎为0,使得峰背比大大增加了。经过比较,三种滤片的设置都有效地提高了峰背比,其中平衡滤片提高的倍数最大,二类初级滤片次之,最小为一类初级滤片。理论上三种滤片是可以同时设置以更大地提高峰背比的,但由于轻基体中Cd元素含量很小,而低计数的结果会大大增加放射性统计涨落误差,因此,在实际应用中,还应考虑到这一点,以决定是否进行两两同时设置或者三者同时设置。研究创新之处在于除了传统的两种滤片外,还提出了二类初级滤片的运用。