光纤包层中的弱光探测技术

作     者：慕伟 徐呈霖 司旭 马云亮 林亚俊 肖春 Mu Wei;Xu Chenglin;Si Xu;Ma Yunliang;Lin Yajun;Xiao Chun

作者机构：中国电子科技集团公司第二十三研究所上海201900 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2016年第45卷第4期

页      面：222-226页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0802[工学-机械工程] 0803[工学-光学工程] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0704[理学-天文学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家重大仪器专项资助项目(2012YQ150213-5) 

主　　题：弱光探测 光纤激光器 有源光纤 包层泵浦光 

摘      要：设计了一种用于探测光纤激光器系统中有源光纤中残余的弱泵浦光的方法。采用两种光纤探针对剥离涂覆层的有源光纤以及保留涂覆层的光纤进行了包层泄漏光的测试,优选出锥形探针作为弱光探测的光纤探针,并用该探针测得泄漏光与包层残余泵浦光的功率关系,发现二者呈线性关系并有对应的比例系数。通过该光纤探针的方法可实现快速确定有源光纤在激光器中的使用最佳长度,避免传统方法中对有源光纤进行多次切割、熔接再测试等操作,极大地提高了测试效率并降低了测试成本。试验同时发现,光纤探针在剥离涂覆层光纤上的探测效果优于未剥离涂覆层的光纤探测效果。