咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >爆炸逻辑零门可靠性研究 收藏

爆炸逻辑零门可靠性研究

RELIABILITY STUDY ON THE DESIGN OF EXPLOSIVE LOGIC NULL GATE

作     者:焦清介 吉利国 蔡瑞娇 

作者机构:北京理工大学北京100081 

出 版 物:《兵工学报》 (Acta Armamentarii)

年 卷 期:1997年第18卷第2期

页      面:116-120页

核心收录:

学科分类:08[工学] 082603[工学-火炮、自动武器与弹药工程] 0826[工学-兵器科学与技术] 

主  题:爆炸逻辑零门 可靠性 数学模型 起爆技术 

摘      要:建立了爆炸逻辑零门作用可靠性的数学模型,讨论了作用可靠性概率窗口。对拐角效应零门和接触零门进行了具体分析。文中给出了相应的可靠性试验数据。为爆炸逻辑网络的研究提供了依据。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分