厚型气体电子倍增探测器(THGEM)在15～70 keV X射线测量中的应用

作     者：阎明洋 黄文谦 张帅 马忠剑 吴金杰 谢一冈 YAN Ming-yang;HUANG Wen-qian;ZHANG Shuai;MA Zhong-jian;WU Jin-jie;XIE Yi-gang

作者机构：中国科学院高能物理研究所北京100049 中国科学院大学北京100049 中国计量科学研究院北京100013 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2017年第37卷第11期

页      面：1118-1122页

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0827[工学-核科学与技术] 0703[理学-化学] 070202[理学-粒子物理与原子核物理] 1009[医学-特种医学] 0702[理学-物理学] 

主　　题：THGEM 直流读出电子学 X射线 

摘      要：本文采用了自主研发的THGEM探测器,其具有双膜结构,64路直流读出电子学等特点。采用该THGEM探测器在K荧光装置上,开展了对15~70 ke V内多能量点X射线的探测实验工作;结果显示该THGEM探测器对宽能区、高注量(剂量当量)的X射线具有良好线性响应,并分析了影响探测效率的因素。