基于动态测量的皮秒级上升时间校准方法
Picosecond risetime calibration method based on dynamic metrology作者机构:北京无线电计量测试研究所
出 版 物:《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)
年 卷 期:2018年第39卷第3期
页 面:215-222页
核心收录:
学科分类:0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程]
摘 要:为快捷、准确地校准高带宽电子设备的上升时间,提出了一种基于动态测量的皮秒级上升时间校准方法。与根据带宽估计上升时间、使用方和根法修正测得结果的传统方法不同,提出了基于最短区间估计的上升时间计算方法,用以计算标准设备测得波形的上升时间,并使用基于动态测量的有限带宽效应的修正算法对测得上升时间进行修正。在以上研究基础上,给出修正因子列表,可在实际校准中使用查表法,完成对测得上升时间的修正。利用该方法对70 GHz光电探测器和50 GHz取样示波器进行校准,实验结果表明,在被校设备与标准设备带宽可比拟时,提出的方法相比于传统方法,可更准确地获得被测设备上升时间的校准值;与电光取样方法和NTN(nose-to-nose)方法所得的结果进行比较后发现,两者一致性非常好;本方法不需要标准设备与被校设备的实际冲激响应函数,无需进行繁琐的反卷积计算,极大减少了校准耗时,降低了校准难度。