基于线面模型的偏折术测量方法
Deflectometry Measurement Based on Line-plane Model作者机构：上海大学机电工程与自动化学院上海200072
出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)
年 卷 期：2018年第47卷第5期
页 面：170-180页
核心收录：
学科分类：08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金：国家自然科学基金(Nos.51575332 61673252) 科技部重点研究项目(No.2016YFC0302401)资助~~
主 题：入射光线 反射光线 入射光平面 线面模型 镜面位姿标定 仿真分析
摘 要：将传统的反射光线与入射光线求交问题转化为反射光线与入射光线所在平面的求交问题并构建线面模型.使用点光源替代传统连续面光源,通过检测入射光线上两点或多点光源的投射光线确定入射光平面,通过反射光线和入射光平面求交确定镜面三维点.基于镜面位姿标定方法提出线面偏折术系统的标定方法,只需一次标定即可用于镜面测量.仿真分析了位姿关系标定结果对系统重建精度的影响.系统测量最大误差为0.25mm,误差均方根值为0.073mm.实验验证了所提方法的可行性,实验结果表明该方法具有较高的测量精度.
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