基于改进Otsu算法的TFT-LCD点缺陷自动光学检测系统

作     者：郭波 管菊花 黄志开 GUO Bo;GUAN Ju-hua;HUANG Zhi-kai

作者机构：南昌工程学院江西省精密驱动与控制重点实验室江西南昌330099 江西机电职业技术学院江西南昌330013 

出 版 物：《液晶与显示》 (Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays)

年 卷 期：2018年第33卷第3期

页      面：221-227页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 08[工学] 071102[理学-系统分析与集成] 0810[工学-信息与通信工程] 0711[理学-系统科学] 081104[工学-模式识别与智能系统] 0804[工学-仪器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学] 0811[工学-控制科学与工程] 0702[理学-物理学] 081103[工学-系统工程] 

基　　金：国家自然科学基金(No.61472173) 江西省科技厅重点研发计划(No.20151BBE50083)~~ 

主　　题：点缺陷检测 TFT-LCD 改进的Otsu算法 自动光学检测系统 

摘      要：针对TFT-LCD点缺陷自动光学检测时,缺陷与背景对比度较低难以用传统阈值分割算法处理的难题,提出一种改进的Otsu算法,并构建了TFT-LCD点缺陷自动光学检测系统。首先,通过Gabor滤波去除了纹理背景的影响。然后,利用威布尔函数形态参数分段取值时,其分布函数呈现的不同分布特性,改进了传统Otsu阈值提取函数。最后,进行了离线测试试验和在线测试试验。试验表明,改进的Otsu算法在点缺陷与背景对比度较低的情况下分割效果优于传统Otsu算法。将该算法移植到TFT-LCD点缺陷自动光学检测硬件平台上进行在线测试,正确检测率可达到94%,单个样本最短检测时间可缩短至150ms。降低了TFT-LCD人工检测点缺陷的工作量和劳动强度。