NaI闪烁体的快中子辐照损伤

作     者：余枭 闫思齐 文万信 张保国 王仁生 刘汉洲 YU Xiao;YAN Siqi;WEN Wanxin;ZHANG Baoguo;WANG Rensheng;LIU Hanzhou

作者机构：苏州大学放射医学与防护学院苏州215123 江苏省高校放射医学协同创新中心苏州215123 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2017年第40卷第12期

页      面：12-16页

核心收录：

学科分类：082703[工学-核技术及应用] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术] 

基　　金：国家重大科学仪器专项子项(No.2013YQ04086102) 国家自然科学基金(No.11605119) 江苏省自然科学基金(No.BK20160304)资助 

主　　题：中子瞬发γ活化分析 NaI 裂变中子 辐照损伤 能量分辨率 

摘      要：中子瞬发γ活化分析(Prompt Gamma Neutron Activation Analysis,PGNAA)是工业物料成分检测的最主要方法之一,该方法通过大体积NaI闪烁体探测器测量物料被中子活化后的瞬发γ能谱来分析物料成分。测量过程中,NaI晶体处于较强的快中子场中,该快中子场对晶体的辐照损伤是影响NaI探测器性能的最主要因素,而NaI探测器的稳定性直接决定了PGNAA整体设备的性能。本文基于中国工程物理研究院CFBR-Ⅱ(China Fast Burst Reactor Ⅱ)型反应堆,精确地测量了NaI闪烁体在裂变中子场的10~8 cm^(-2)、10~9 cm^(-2)、10^(10) cm^(-2)、10^(11)cm^(-2)、10^(12) cm^(-2)、10^(13) cm^(-2)、10^(14)cm^(-2)共7个中子注量照射后,NaI闪烁体组装的闪烁体探测器的性能变化。测量结果表明,NaI探测器除有较强的中子活化效应外,能量分辨率未发生显著变化,这为PGNAA设备中探测器的中子屏蔽设计和寿命估计提供了重要参数。