应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素

作     者：初学莲 林晓燕 程琳 孙洪波 杜晓光 丁训良 CHU Xue-lian;LIN Xiao-yan;CHENG Lin;SUN Hong-bo;DU Xiao-guang;DING Xun-liang

作者机构：北京师范大学低能核物理研究所北京100875 

出 版 物：《原子核物理评论》 (Nuclear Physics Review)

年 卷 期：2008年第25卷第1期

页      面：61-66页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 070602[理学-大气物理学与大气环境] 0706[理学-大气科学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

主　　题：微束X射线荧光 X光透镜 植物叶片 环境污染 

摘      要：应用一种使用X光透镜的微束X射线荧光(MXRF)分析技术,对北京不同地区的松针中重金属元素及S元素含量进行了测定和分析,探讨了它们与大气污染之间的关系;根据受损松针与正常松针检测结果的比较,确定了污染元素。对小叶黄杨叶片中部进行了二维微区自动扫描,得出了小叶黄杨叶片对各种金属元素的抗污染能力。研究结果从方法学上验证了使用X光透镜的MXRF分析技术在测量环境样品中的应用,为环境科研、污染治理和环境管理提供了科学依据。