着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术
Advanced Testing Technology for Developing LCD Driver IC作者机构：爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司上海201102
出 版 物：《电子工业专用设备》 (Equipment for Electronic Products Manufacturing)
年 卷 期：2005年第34卷第8期
页 面：48-51页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：RSDS Mini-LVDS MDGT TFT Source Driver
摘 要：概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台。
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