咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >一种容SEU的新型自恢复锁存器 收藏

一种容SEU的新型自恢复锁存器

A New SEU Tolerant Self-Recovery Latch

作     者:黄正峰 付俊超 欧阳一鸣 闫爱斌 梁华国 易茂祥 HUANG Zhengfeng FU Junchao OUYANG Yiming YAN Aibin LIANG Huaguo YI Maoxiang

作者机构:合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 安徽大学计算机科学与技术学院合肥230601 

出 版 物:《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期:2017年第47卷第5期

页      面:685-689,694页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

基  金:国家自然科学基金资助项目(61574052 61674048 61604001 61474036 61371025) 安徽省自然科学基金资助项目(1608085MF149) 

主  题:软错误 单粒子翻转 时钟门控 加固锁存器 

摘      要:针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器。采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SEU能够实现自恢复,可用于时钟门控电路。采用高速通路设计和钟控设计,以减小延迟和降低功耗。相比于HLR-CG1,HLR-CG2,TMR,HiPer-CG锁存器,该锁存器的功耗平均下降了44.40%,延迟平均下降了81%,功耗延迟积(PDP)平均下降了94.20%,面积开销平均减少了1.80%。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分