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原子力显微术轻敲模式中探针样品接触过程及相位衬度研究

Study of tip-sample contact process and phase contrastin tapping mode atomic force microscopy

作     者:王晓平 刘磊 胡海龙 张琨 Wang Xiao-Ping 1)2) Liu Lei 2) Hu Hai-Long 2) Zhang Kun 2) 1) (Department of Physics, University of Science and Technology of Chin a, Hefei230026, China) 2) (Structure Research Laboratory, University of Science and Technolog y of China,Hefei230026, China)

作者机构:中国科学技术大学物理系合肥230026 中国科学技术大学结构分析实验室合肥230026 

出 版 物:《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期:2004年第53卷第4期

页      面:1008-1014页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070203[理学-原子与分子物理] 0702[理学-物理学] 

基  金:国家自然科学基金 (批准号 :1 0 2 74 0 76 ) 国家自然科学基金重点项目 (批准号 :50 1 32 0 30 )资助的课题~~ 

主  题:原子力显微术 轻敲模式 相位衬度 探针样品 阻尼受迫振子模型 杨氏模量 能量耗散 

摘      要:借助简单的有阻尼受迫振子模型 ,研究了原子力显微术轻敲模式中探针与样品接触时间tc、样品的表面形变Dz和相位衬度对探针设置高度zc 及样品杨氏模量Es 的依赖关系 .结果发现 ,tc 与Dz 均随Es 及zc 的增大而减小 ,同时探针与样品作用过程伴随很小的能量耗散 .对轻敲过程中相移量 φ的研究表明 ,Es 较大的样品有较小的 φ ,且 φ随zc 的变化比Es 较小的样品明显 .

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