机内测试技术综述
Study of Built-in Test作者机构：装甲兵工程学院控制工程系北京100072
出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)
年 卷 期：2013年第21卷第3期
页 面：550-553页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,是实现可测试性设计的重要技术手段之一,文章在综合大量文献的基础上介绍了机内测试技术的定义、特点、结构、分类以及国内外发展现状等,重点阐述了目前研究和应用中的智能BIT技术,即灵巧BIT、自适应BIT以及基于时间应力测量的增强BIT,智能BIT技术大大改善了当前研究应用中存在的虚警率较高的不足,成为测试领域21世纪的重点研究项目之一,最后对测试性技术的发展趋势进行了探讨和展望。
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