有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ
X Ray Photoelectron Spectroscopy and Mass Spectrum of Organic Tin Compounds作者机构：中国科学院长春应用化学研究所 东北师范大学化学系
出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)
年 卷 期：1999年第19卷第2期
页 面：142-144页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070303[理学-有机化学] 0703[理学-化学]
摘 要：本文利用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）研究了１２种有机锡化合物。通过ＸＰＳ和ＭＳ讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对ＳｎＯ键的影响。结果表明ＸＰＳ和ＭＳ对有机锡化合物某些化学键性质的讨论具有互补性。
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