荧光X射线法测定纸张灰分
Rapid and non-destructive determination of ash content in paper作者机构：国家机械电子工业部上海材料研究所
出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)
年 卷 期：1990年第13卷第4期
页 面：216-219页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
摘 要：本文介绍用同位素源特征荧光X射线选择吸收法测定纸张灰分的原理、方法及装置。并对14只不同厚度、不同含灰量的纸样作了测定。每只样品测定时间30s。当纸张质量厚度在28—120g/m^2范围时,与重量法相比,灰分测定误差小于±1％,均方根偏差为±0.58％。
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