用于X射线诊断的晶体布喇格成像系统
X-ray Backlighting Imaging Bragg Spectrometer for X-ray Diagnosis作者机构：山西大同大学物理与电子科学学院山西大同037009 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400030
出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)
年 卷 期：2017年第46卷第8期
页 面：60-64页
核心收录：
学科分类：07[理学] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学]
主 题：球面弯曲晶体 布喇格成像 X射线成像 空间分辨率 背光成像诊断
摘 要：为了评估惯性约束聚变实验中激光辐射驱动的对称性和均匀性,分析靶丸的运动过程,设计一种新型诊断单色X射线的弯曲晶体布喇格成像系统,该系统核心部件由色散元件球面弯曲晶体和探测装置组成.利用光线追踪软件对该成像系统进行模拟验证,并搭建了晶体布喇格成像系统进行X射线背光成像测试实验.实验获得了清晰的Cr靶单色X射线背光二维网格信息,石英球面晶体布喇格成像系统空间分辨率为83μm,表明该成像系统可以用于等离子体X射线的背光成像诊断.
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