Hilbert谱分析在探地雷达薄层识别中的应用
Application of Hilbert spectrum analysis in Ground Penetrating Radar thin layer recognition作者机构：中国科学院电子学研究所电磁辐射与探测技术中国科学院重点实验室北京100190 中国科学院大学北京100049
出 版 物：《地球物理学报》 (Chinese Journal of Geophysics)
年 卷 期：2013年第56卷第8期
页 面：2790-2798页
核心收录：
学科分类：081801[工学-矿产普查与勘探] 081802[工学-地球探测与信息技术] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程]
基 金：国家重点基础研究发展计划(973计划)项目(2010CB73190105)资助
主 题：探地雷达 薄层识别 Hilbert谱分析
摘 要：针对实际勘探中的需要,本文对薄层的电磁波反射特性进行了深入研究.薄层在反射电磁波时,会对入射电磁波进行滤波作用.薄层的类型和厚度会影响其滤波特性,利用此特点,本文将Hilbert谱分析方法引入到薄层识别中.该方法能将探地雷达对递变型薄层的垂直分辨率提升至λ/8.本文利用该方法对实测探地雷达资料进行了层位识别研究,该方法能很好地提高探地雷达的层位识别能力.
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