可程控多路开关的通道结构
出 版 物：《电子技术（上海）》 (Electronic Technology)
年 卷 期：1989年第16卷第12期
页 面：17-18页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：自动测试系统问世后,随着应用的日益广泛,要求自动测试的对象也日趋复杂。例如,对较复杂电子产品的测试,系统中就需要连接多台激励信号源和响应测量仪器,而且除精度和速度的要求外,还有多点、多参量、多功能的要求。由于系统规模的不断扩大,测试复杂程度的提高,一些将激励和测量仪器直接连于被测装置(device under test,缩写为DUT)的简单方法,无法实现系统中各种仪器与DUT之间信号的自动连接和切换。因此必须有一个自动化的开关装置。
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