基于调制度测量轮廓术的测量系统研究
The study of the measurement system based on modulation measurement profilemetry作者机构：四川大学光电科学技术系成都610064
出 版 物：《激光杂志》 (Laser Journal)
年 卷 期：2004年第25卷第4期
页 面：34-36页
核心收录：
学科分类：08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术]
摘 要：调制度测量轮廓术可以实现对物体的垂直测量 ,特别适合于探测表面有高度剧烈变化或不连续区域的物体 ,研究实用的基于调制度测量轮廓术的测量系统对三维传感和机器视觉有重要意义。本文从调制度测量轮廓术的原理出发 ,分析了获取条纹调制度信息的原理 ,提出了两种易于实现仪器化的垂直扫描方法 ,提出了调制度测量轮廓术的实验系统设计方法和步骤 ,给出了模拟实验结果。
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