基于点扫描的超分辨显微成像进展
Progress of point-wise scanning superresolution methods作者机构：浙江大学光电科学与工程学院现代光学仪器国家重点实验室杭州310027
出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)
年 卷 期：2017年第66卷第14期
页 面：233-245页
核心收录：
基 金：国家重点基础研究发展计划(批准号:2015CB352003) 国家重点研发计划(批准号:2016YFF0101400) 国家自然科学基金(批准号:61335003 61377013 61378051 61427818) 浙江省自然科学基金(批准号:LR16F050001) 中央高校基本科研业务费资助的课题
主 题：超分辨 共聚焦 受激辐射荧光损耗显微术 点扫描
摘 要：光学显微镜一直推动着现代科学技术的发展.随着科学的进步,对显微成像分辨率的要求在生物、材料等领域日渐凸显,而常规宽场显微成像一直面临着成像分辨率衍射受限的问题.1968年出现的共聚焦显微镜作为点扫描显微镜的开端第一次实现了远场下成像分辨率的突破,它具有层切性好、信噪比高等优点.在1994年出现的受激辐射荧光损耗显微镜将显微成像能力突破到2.8 nm左右,并成为目前效果最佳、应用较广泛的超分辨显微技术.荧光差分显微和饱和荧光吸收竞争等点扫描技术具有无荧光染剂限制、饱和光强低、光路简单等优势,并且能取得1/6波长的分辨能力,进而在超分辨显微领域仍有着发挥空间.Airyscan技术作为以上方法的补充可以弥补点扫描系统中由于探测小孔半径减小而带来的信号丢失,从而提高成像信噪比和分辨率,但阵列探测器成本较高.上述点扫描显微镜通过改变照明或者探测的方式实现了分辨率突破.本文详细讨论了点扫描超分辨方法的原理、成像效果及面临的瓶颈,并分析了点扫描超分辨显微镜在应用和技术上的趋势.
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