一种采用数字激励测试的MASH结构ΣΔ模数转换器

作     者：曹政新 胡平 孙烨辉 许长喜 李奇 熊绍珍 CAO Zhengxin;HU Ping;SUN Yehui;XU Changxi;LI Qi;XIONG Shaozhen

作者机构：南开大学光电子所天津300071 天津工业大学机械工程学院工业设计教研室天津300160 

出 版 物：《固体电子学研究与进展》 (Research & Progress of SSE)

年 卷 期：2008年第28卷第1期

页      面：100-104页

核心收录：

学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

基　　金：天津市科委科技攻关计划培育项目(06YFGPGX08300) 国家自然基金项目(60437030) 

主　　题：ΣΔ调制器 数字激励源 模数转换器 

摘      要：介绍了一种采用数字激励源测试的MASH(MultistAge noise SHaping)2-2结构ΣΔ模数转换器。为了简化测试过程,降低测试成本,该模数转换器加入辅助测试电路,无需高精度的测试仪器,仍可测得ΣΔ模数转换器性能参数。文中对采用数字激励源测试的原理进行阐述,并对MASH2-2结构ΣΔ模数转换器进行设计。该转换器采用1st Silicon0.25μm1P4M工艺,在电源电压3V,过采样时钟频率6.144MHz的条件下,利用传统的模拟测试和数字激励源测试证明其在0~20kHz频率范围内,SNDR89dB。测试的结果证明了采用数字激励测试方案的正确性。