高速逻辑分析仪探测
High-speed Logistic Analyzer Examine
作 者：Brock J.LaMeres
作者机构：安捷伦科技公司
出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)
年 卷 期：2004年第7期
页 面：9-11页
学科分类：080802[工学-电力系统及其自动化] 0808[工学-电气工程] 08[工学]
主 题：高速逻辑分析仪 探头 负荷模型 阻尼电阻器 短线探测
摘 要：本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题,讨论了探头的负荷模型及 探测位置的影响。最后,本文讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术短线探测和阻尼电阻器探测。
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