基于ADF4106的低相噪本振设计
Design of low phase noise local oscillator based on ADF4106作者机构：中国电子科技集团公司第41研究所研发1部安徽蚌埠233006 电子信息测试技术安徽省重点实验室安徽蚌埠233006
出 版 物：《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)
年 卷 期：2017年第24卷第6期
页 面：30-32,61页
学科分类：080904[工学-电磁场与微波技术] 080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家科技重大专项面向R12 LTE-Advanced终端综合测试仪(编号:2016ZX03002010)
主 题：ADF4106 本振 压控振荡器 环路滤波器 相位噪声
摘 要：为了实现低相噪的本振信号输出,本文设计出一种基于锁相环芯片ADF4106的低相噪本振源。通过实际调试,测试结果满足设计要求,并作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器的中。
维普期刊数据库
同方期刊数据库