温度和放电深度对钠硫电池欧姆内阻的影响

作     者：鲍剑明 龚明光 刘宇 BAO Jian-ming;GONG Ming-guang;LIU Yu

作者机构：上海电气钠硫储能技术有限公司上海201815 上海钠硫储能系统工程技术研究中心上海201815 

出 版 物：《电池》 (Battery Bimonthly)

年 卷 期：2017年第47卷第2期

页      面：69-71页

学科分类：0808[工学-电气工程] 08[工学] 

基　　金：上海市科学技术委员会科研技术项目(15DZ2283101) 

主　　题：钠硫电池 欧姆内阻 温度 放电深度(DOD) 

摘      要：钠硫电池的欧姆内阻与温度和放电深度(DOD)密切相关。通过不同温度下的脉冲放电实验,测量不同DOD时钠硫电池的欧姆内阻。除DOD为100%外,在某一固定DOD下,欧姆内阻随着温度的降低而增大。在某一固定温度下,DOD为0~7.14%时,随着DOD增加,β″-氧化铝陶瓷管外表面高阻抗的硫单质层被消耗,造成欧姆内阻逐渐减小;DOD为7.14%~85.70%时,欧姆内阻基本恒定;DOD为85.70%~100%时,随着DOD增加,电池负极有效反应面积减小,欧姆内阻急剧增大。DOD为7.14%~57.14%时,钠硫电池的开路电压为2.065~2.079 V,具有良好的功率特性。