一种基于恒定统计的红外图像非均匀性校正算法
A non-uniformity correction algorithm of infrared image sequences based on constant-statistics作者机构:南京理工大学电子工程与光电技术学院江苏南京210094
出 版 物:《应用光学》 (Journal of Applied Optics)
年 卷 期:2017年第38卷第2期
页 面:304-308页
核心收录:
学科分类:080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
主 题:红外焦平面阵列 非均匀性校正 恒定统计 修正均值滤波
摘 要:对红外焦平面阵列成像系统而言,基于场景的非均匀校正技术是处理固定图案噪声的关键技术。现有的非均匀校正算法主要被收敛速度和鬼像问题所限制。提出一种新的基于恒定统计算法的自适应场景非均匀校正技术。利用红外图像序列的时域统计信息结合提出的α修正均值滤波来估计探测器的参数,通过减少样本的渐进方差估计,完成成像系统的非均匀性校正。通过模拟和真实的非均匀性图像对算法的性能进行评价。实验结果表明,在继承恒定统计算法快速收敛的同时,图像峰值信噪比较恒定校正法及常系数α校正算法分别有44.5%和32.9%的提升,图像鬼像问题有明显改善。