基于激光回馈效应的液晶双折射特性测量

作     者：李继扬 谈宜东 吴季 张书练 Li Jiyang Tan Yidong Wu Ji Zhang Shulian

作者机构：清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院北京100191 福建福晶科技股份有限公司福建福州350003 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2017年第46卷第3期

页      面：107-112页

核心收录：

学科分类：08[工学] 0803[工学-光学工程] 

基　　金：国家自然科学基金(61475082) 

主　　题：液晶材料 双折射特性 位相延迟 激光回馈效应 各向异性外腔回馈 

摘      要：准确的双折射特性测量对于液晶的实际应用具有重要意义。研究了液晶材料的工作原理,以激光回馈效应为基础,搭建了各向异性外腔回馈双折射测量系统,对不同驱动电压下液晶的双折射特性进行测量。测量结果表明,各向异性外腔回馈双折射测量系统测量精度在0.3°之内;通过施加0~24V交流电压,液晶材料双折射率在2.74×10^(-1)~2.39×10^(-3)范围内变化,对应各向异性呈现出460°~5°的大范围位相延迟值。电压范围在0.7~2V时,电压-双折射率关系表现出较好的线性度,通过线性拟合对该范围内电压-双折射率关系进行计算,其线性度优于95.5%。液晶材料可以提供稳定的位相延迟,同一电压值下的位相延迟短期重复性优于0.52°,长期重复性优于4.5°。