高速逻辑分析仪探测
作者机构：安捷伦科技公司
出 版 物：《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World)
年 卷 期：2004年第10期
页 面：95-96,102页
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器]
主 题：逻辑分析仪 探头 负荷模型 探测位置 系统检验 阻尼电阻器探测
摘 要：在过去几十年中,数字设计人员一直把逻辑分析仪作为系统检验的主要工具.近年来,随着时钟速率的加快,迫使设计人员不得不考虑系统所有部分的信号完整性,包括测试能力.逻辑分析仪探头已不再象以往那样任意连接到系统上,就能够保证成功,而是必须考察探头位置、负荷及与传输线的邻近程度等因素.本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题和探头的负荷模型以及探测位置的影响.最后,本文还讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术:短线探测和阻尼电阻器探测.
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