用地层微电阻率扫描成像测井识别沉积构造特征

作     者：吴文圣 陈钢花 王中文 雍世和 Wu Wensheng;Chen Ganghua;Wang Zhongwen;Yong Shihe

作者机构：石油大学 

出 版 物：《测井技术》 (Well Logging Technology)

年 卷 期：2000年第24卷第1期

页      面：60-63页

核心收录：

学科分类：081801[工学-矿产普查与勘探] 081802[工学-地球探测与信息技术] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程] 

主　　题：地层微扫描测井 沉积构造 测井 电测井 

摘      要：吴文圣 ,陈钢花 ,王中文等 .用地层微电阻率扫描成像测井识别沉积构造特征 .测井技术 ,2 0 0 0 ,2 4(1) :6 0～ 6 3地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的典型代表 ,具有极高的垂向分辨率 ,能直观显示井壁地层的微细变化。识别地层的沉积构造特征是 FMI图像的一个重要应用 ,也是分析沉积环境、进行地层划分和对比的重要依据。着重介绍了各种沉积、构造特征 (层理构造、层面构造、变形构造、化学成因构造、生物成因构造、断层、褶皱等 )在