qPlus型非接触原子力显微技术进展及前沿应用

作     者：刘梦溪 李世超 查泽奇 裘晓辉 LIU Meng-Xi;LI Shi-Chao;ZHA Ze-Qi;QIU Xiao-Hui

作者机构：中国科学院纳米标准与检测重点实验室中国科学院纳米科学卓越创新中心国家纳米科学中心北京100190 中国科学院大学北京100049 

出 版 物：《物理化学学报》 (Acta Physico-Chimica Sinica)

年 卷 期：2017年第33卷第1期

页      面：183-197页

核心收录：

学科分类：08[工学] 0703[理学-化学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：科技部(2012CB933001) 国家自然科学基金(21425310)项目资助~~ 

主　　题：非接触原子力显微技术 qPlus传感器 高分辨成像 力谱测量 开尔文探针力显微技术 

摘      要：原子力显微镜(AFM)通过探测针尖与样品之间的相互作用力获得样品表面的结构信息。基于qPlus传感器的非接触原子力显微镜(NC-AFM)在传统AFM的基础上进一步提升了空间分辨率,为研究表面物理和化学过程提供了一种新的成像和谱学研究技术。本文首先介绍NC-AFM的基本构造、高分辨成像机制和力谱测量等工作原理,总结了近年来NC-AFM在表面在位化学反应、低维材料表征和表面电荷分布测量等方面的应用,探讨了NC-AFM技术的发展与完善,展望了NC-AFM面临的机遇和挑战。