X射线荧光光谱法测定高硅分子筛中的氧化钾
Determination of Potassium Oxide in High Silica Molecular Sieve by X-ray Fluorescence Spectrometry作者机构：湖南长岭石化科技开发有限公司湖南岳阳414012
出 版 物：《广东化工》 (Guangdong Chemical Industry)
年 卷 期：2016年第43卷第22期
页 面：158-159页
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
摘 要：采用直接压片成型的方法,建立了一种高硅分子筛中氧化钾的X射线荧光光谱分析方法(XRF)。实验结果表明,该方法线性良好,相关系数r=0.9997;与化学法测定结果比较相对误差小于5.6%;精密度试验RSD值小于2.1%;方法具有良好的准确度和精密度;本方法直接压片测定,具有简单、快速、成本低的优点,能满足企业大批量生产的分析要求。
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