IFOG中相位调制器的残余强度调制及其测量
Residuary intensity modulation of the phase modulator in IFOG and its measurement作者机构：浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江杭州310027
出 版 物：《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)
年 卷 期：2007年第34卷第7期
页 面：26-29页
核心收录：
学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0825[工学-航空宇航科学与技术]
摘 要：利用开环正弦波调制解调方法,推导了铌酸锂相位调制器的残余强度调制(简称RIM)对干涉型光纤陀螺(简称IFOG)信号的影响,指出在调制频率漂移或光纤环渡越时间变化时RIM可导致陀螺的零偏和噪声增大。对典型条件的计算表明,0.01°/h的IFOG容许的最大RIM为13ppm,0.1°/h的中低精度IFOG则为81ppm。提出利用锁相放大器精确测量相位调制器RIM的方法,并对国产器件进行测量,结果表明,器件RIM指标可在中低精度IFOG中应用。
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