TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取

作     者：张腾达 卢荣胜 党学明 Zhang Tengda;Lu Rongsheng;Dang Xueming

作者机构：合肥工业大学合肥230009 

出 版 物：《中国机械工程》 (China Mechanical Engineering)

年 卷 期：2016年第27卷第21期

页      面：2895-2901页

核心收录：

学科分类：12[管理学] 07[理学] 08[工学] 0711[理学-系统科学] 1201[管理学-管理科学与工程(可授管理学、工学学位)] 081104[工学-模式识别与智能系统] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0802[工学-机械工程] 0835[工学-软件工程] 0811[工学-控制科学与工程] 0801[工学-力学（可授工学、理学学位）] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家重大科学仪器设备开发专项资助项目(2013YQ220749) 

主　　题：薄膜晶体管-液晶显示器 缺陷检测 灰度共生矩阵 一维离散傅里叶变换 邻域r 

摘      要：在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维DFT方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r时的均匀度差值。最大差值所对应的r就是最佳邻域。搭建了TFT-LCD平板检测实验系统,实验对不同长度的非整周期、整周期、非整周期补整的图像进行处理。从获取的r可知,在相同环境下,非整周期补整后的r和整周期的r相同。将这一结果应用到实际缺陷检测中,系统可以准确地检测出缺陷。