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微分电阻率测深原理及应用

作     者:刘煜洲 曹静平 陈福集 

作者机构:合肥工业大学 

出 版 物:《国外地质勘探技术》 (Foreign Geoexploration Technology)

年 卷 期:1991年第10期

页      面:14-21+34页

主  题:测深 反射系数法 地电断面 水深测量 电阻率测深法 电测深法 电法勘探 对称四极 视电阻率 水平层状 电极距 

摘      要:本文首先对国外提出的微分电阻率测深法理论与特点作简要的介绍与评述,并与国内提出的反射系数法(又称:K 剖面法)的实质作以对比.进而阐明微分电阻率测深法可作为野外工作中常用的对称四极电阻率测深法的资料处理和解释的一种手段,并通过理论计算提出在计算中应如何选择电极距.其次,本文给出了作者对某些非水平层状体上微分电阻率测深曲线的理论计算结果,以阐明其能提高对规模较小的深测目标所引起异常的分辩能力.但同时,其受横向电性不均匀体的干扰影响相当大.因此在应用中必须谨慎对待.最后给出了应用实例.

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