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劣化绝缘子检测用光电式测杆

作     者：蒋国雄 任孝梁 黄达泮 张源斌 米景平 刘云省 李永生 叶得荣 孙赤民 

作者机构：西安交通大学 兰州供电局 白银供电局 

出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期：1979年第3期

页      面：3-10页

学科分类：0808[工学-电气工程] 080803[工学-高电压与绝缘技术] 08[工学] 

主　　题：测杆 头部 光导 电压等级 解剖部位 劣化绝缘子 光电式 

摘      要：本文介绍一种通过测量绝缘子的电压分布来发现劣化绝缘子的检测用光电式测杆以及该测杆各部分的参数、特性、线路和实验室调试情况,并给出了在110千伏线路上实测的初步结果。

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