用HPGe和Ge(Li)探测器测定238Pu,239Pu,240Pu,241Pu丰度和241Am含量
出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)
年 卷 期：1983年第6期
页 面：673-678页
摘 要：本文介绍了用γ能谱法精确测定浅燃耗钚样品的同位素丰度和Am相对含量的方法和实验结果。在38—60 keV钚的低能γ射线和203—208 keV两个能区中获取数据。选择不同同位素能量相近的γ射线对计算同位素丰度比,并对这些γ射线对的小的能量差别进行了仔细的效率修正,Pu,Pu,Pu,Pu丰度和Am相对含量的精度分别为±4.1%,±0.04%,±0.37%。±0.45%和±0.40%。与质谱仪测得结果相比,在误差范围内相互符合。
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