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用HPGe和Ge(Li)探测器测定238Pu,239Pu,240Pu,241Pu丰度和241Am含量

作     者:朱荣保 杨留成 王时举 苏树新 章泽甫 汤泉涌 潘作晶 丁大纯 李世伦 

出 版 物:《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期:1983年第6期

页      面:673-678页

学科分类:12[管理学] 1204[管理学-公共管理] 0401[教育学-教育学] 1004[医学-公共卫生与预防医学(可授医学、理学学位)] 04[教育学] 120403[管理学-教育经济与管理(可授管理学、教育学学位)] 100402[医学-劳动卫生与环境卫生学] 040101[教育学-教育学原理] 10[医学] 

主  题:HPGe Ge(Li) 钚丰度  

摘      要:本文介绍了用γ能谱法精确测定浅燃耗钚样品的同位素丰度和Am相对含量的方法和实验结果。在38—60 keV钚的低能γ射线和203—208 keV两个能区中获取数据。选择不同同位素能量相近的γ射线对计算同位素丰度比,并对这些γ射线对的小的能量差别进行了仔细的效率修正,Pu,Pu,Pu,Pu丰度和Am相对含量的精度分别为±4.1%,±0.04%,±0.37%。±0.45%和±0.40%。与质谱仪测得结果相比,在误差范围内相互符合。

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