用克恩精密光电测距仪ME3000倍增基线长度
出 版 物：《测绘科学》 (Science of Surveying and Mapping)
年 卷 期：1988年第6期
页 面：18-25+36页
主 题：基线长度 ME3000 强制对中 维塞 比长仪 平面镜 平面反射镜
摘 要：1984年,在芬兰大地测量研究所,用克恩精密光电测距仪ME3000作了一次倍增标准基线的实验。该实验与努梅拉(Nummela)标准基线使用维塞拉光干涉比长仪所作的第十次丈量工作并行。这样,就可在两种不同方法间进行直接比较。该实验包括倍增边为2×216m和2×432m两项内容。倍增基线的精度达0.1ppm。已获得的这个高精度,是通过维塞拉光干涉比长仪方法与这里提出的方法相比较得到证实的。本文所述丈量方法的高精度,系通过消除ME3000丈量中的系统误差而达到的。
同方期刊数据库