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干涉显微法薄膜厚度的测量

作者：岩相

出版物：《无机材料学报》 (Journal of Inorganic Materials)

年卷期：1973年第2期

页面：34-41页

主　　题：多光束干涉条纹显微镜实验设备干涉薄膜厚度条纹间距参考面单色光源透明介质粒子束光束

摘要：在现代光学显微技术中,能够帮助研究者们洞察所研究的材料,了解其表现于光学上的详情细节的先进工具要算是相衬显微术、干涉衬显微术,双光束干涉显微术以及多光束干涉显微术了。前两者可以使我们定性地详细了解材料本身的物相关系,后两者则定量地具体测量有关的数据,以便对材料的进一步发展提供依据。干涉显微术的测量,对于研究晶体生长

本地馆藏 |

1、借阅数量：每证可借书6册，期刊2册，团体读者证可借书刊300册。 2、借阅时间：个人借期为30天，每本书可续借1次，借期为30天；团体借期为90天。 3、归还地点：3楼服务台、自助借还设备、还书箱、各分馆 4、馆际互借：读者未能在本馆获取所需文献资料，可至参考咨询阅览室服务台填写《南通市图书馆馆际互借读者申请表》，根据馆际互借协议，我馆将为读者向其他馆代借文献。馆际互借过程中所产生的费用（资料复印、邮寄费等），由读者个人承担。 5、服务电话续借：59003605 59003606 咨询：81100100 59003600

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