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反射速调管负载特性和寄生谐振的研究

LOAD EFFECTS AND PARASITIC RESONANCE IN REFLEX KLYSTRONS

作     者:高容万 唐金生 

出 版 物:《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期:1965年第3期

页      面:254-261页

学科分类:080804[工学-电力电子与电力传动] 080805[工学-电工理论与新技术] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 

主  题:反射速调管 寄生谐振 谐振腔设计 电子光学系统 负载特性 

摘      要:本文叙述了某X波段金属内腔反射速调管的振荡功率曲线随负载变化时出现的凹坑或振荡中断现象,在分析该现象出现的原因时,应区分是由于电子多次渡越造成的迟滞现象、长线效应、负载过重、寄生诸振,还是由于谐振腔设计上的缺陷。 文章指出,在影响负载特性的诸因素中,谐振腔的设计,尤其是中央突起部分的隙缝电容与旁侧电容的合理分配,以及构成高频隙缝的栅网曲率最为重要。 文章简要介绍了寄生诸振的理论,指出了消除寄生造振的途径,并举出实例说明解决的方法。

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