波导窄边缝隙阵天线的缝隙导纳的简易测量方法
A SIMPLE METHOD FOR MEASURING THE ADMITTANCE OF SLOT ON H-PLANE OF RECTANGULAR WAVEGUIDE作者机构:西安电子技术应用研究所
出 版 物:《电子与信息学报》 (Journal of Electronics & Information Technology)
年 卷 期:1985年第3期
页 面:227-231页
主 题:缝隙 窄边 频率特性 低倍缺陷(金属) 频率响应 缝隙阵天线 导纳 测量方法
摘 要:(一)引言 串馈波导窄边缝隙阵天线是一种广泛应用的天线。波导缝隙电导与缝隙几何尺寸的关系是设计这种天线的基础,而缝隙导纳的频率特性则是分析天线频率特性所必不可少的依据。设计波导缝隙阵天线,虽有理论分析公式可以应用,但所得结果与实际情况还有出入;因此,设计之前,先测得波导缝隙的电导值。由于单个缝隙的电导值相当小,难以测准,加之缝隙之间又存在相互耦合,因此,人们都是测量多个(至少20个)缝隙的阵中的缝隙电导值。一般是采用测量S参量的方法,即测量波节点的移动,通过作图求得电导值。这种测量方法非常繁琐,而且精度也难保证。也有人采用行波功率法,但只能得到谐振频率上的电导值。至今尚未见到关于测量缝隙导纳的频率特性的简捷方